膜厚仪的基本工作原理与测量模式

林上科技的膜厚仪又叫膜厚测试仪，符合了（GB/T 4957-2003）中的涡流法以及（GB/T 4956-2003）中的磁性法等相关标准。

1、其中涡流测厚的原理，是利用高频交变电流在线圈中产生的电磁场，当测头和覆盖层接触时，金属基体上就会产生电涡流。并且会对测头中的线圈产生了反馈的作用，然后通过测量反馈作用的大小来导出覆盖层的厚度。

涡流测厚原理的膜厚仪，适用于非磁性金属基体上（铜、铝、黄铜等）非导电涂层的测量（如涂料、阳极氧化层等）。如航天航空器表面、车辆等及其它铝制品表面的油漆，阳极氧化膜等。

2、而磁性测厚的原理，是当测头和覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成的一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，会使磁路磁阻发生变化，根据变化就可以测出涂层的厚度。

磁性测厚原理的膜厚仪，适用于铁磁性金属基体上（钢、铁等）等非磁性涂层的测量。

林上的膜厚仪LS220结合了涡流测厚和磁性测厚的原理，有铁基测量（Fe）模式，非铁基测量（NFe）模式以及自动识别（Fe/NFe）模式，另外，在自动识别模式下，仪器自动识别测量的基材，并且快速自动转换测量模式。