LS152真空镀膜在线测厚仪
一、LS152真空镀膜在线测厚仪测试原理
材料的透过率(光密度)和材料的镀层厚度成一定的比例关系。这样通过监控材料的光学透过率(光密度)来达到监控材料的均匀性,镀层厚度的目的。只要是光能透过的材料,都可以通过监控透光率来监控产品的品质。如卷绕真空镀膜,玻璃镀膜,玻璃生产线等等。
LS152真空镀膜在线测厚仪
用户可以自由选择测试点的数量,下图为9组测试点的在线测厚仪外观图。设备的实际长度以定制的测试点数量为准。
二、LS152非接触式在线测厚仪结构组成
设备分为三部分:探测系统、人机交互设备、电脑实时监控系统;
探测系统:主要包括测试点(光源探头+接收探头),控制器和铝支架;
人机界面:7寸LCD人机交互界面,显示各个测试点的透过率和光密度数据;
电脑实时监控系统(选配):数据记录,分析,报表等功能。
此仪器提供双路的RS485通讯接口,标准的MODBUS通讯协议,方便和PLC,单片机,人机界面,组态王,电脑等通讯。镀膜机可以直接读取此设备的光密度数据,实现控制自动化(闭环控制)。
三、LS152真空镀膜在线测厚仪图片
测控主机尺寸及安装方式:
控制器和测试探头内嵌于测控主机内,安装时只需要固定测控主机即可。每台设备均配有安装支架,安装支架根据客户的实际安装需求进行定制。测控主机安装示意图如下:
LS152真空镀膜在线测厚仪可特殊定制的最小尺寸图如下:
四、LS152在线涂层测厚仪参数
测试波长 | 850nm红外线,530nm绿光可选 |
测量光斑 | 5mm圆形 |
透过率测量精度 | 优于±1%(无色均匀透光物质) |
透过率分辨率 | 0.005% |
光密度测量范围 | 0.00 OD - 5.00 OD |
光密度分辨率 | 0.01 OD for 0.00-3.00 OD0.05 OD for 3.00-5.00 OD |
最大测量点数 | 45点 |
相邻探头之间距离 | 最小35mm |
光源探头和接收探头之间距离 | 20mm |
工作温度 | -10℃ ~ 60℃ |
存储温度 | -20℃ ~ 70℃ |
相对湿度 | 小于85%,不结露 |
数据刷新周期 | 普通模式300ms/快速模式100ms |
通讯接口 | 双路RS485 |
通讯协议 | 支持标准MODBUS协议 |
仪器尺寸 | 长(根据客户要求定制)×宽(80mm)×高(180mm) |
需真空法兰电极芯数 | 6根(不配电脑监控)9根(配电脑监控) |
电源 | 220V AC/50Hz |
五、操作视频
LS152真空镀膜在线测厚仪操作演示
六、经典案例
1、第三代在线测厚仪案例
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2、第四代在线测厚仪案例
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